高亮度LED的等离子刻蚀方案
日期:2011-11-29 13:57
状态:待解决
提问:ningcuidi


  未经优化的刻蚀处理可能导致GaN刻蚀的位错,进而导致麻点表面和接点电阻的增加。同样,PR是这一步掩膜的选择,因为它是最简单的处理方法。据报道由于典型批刻蚀速率高达140nm/分的温度限制,PR的使用可降低所使用的功率。

  5、深隔离刻蚀

  当需要高达7微米深度时,刻蚀速率是这一工艺的关键。这一步的作用是刻蚀到有源器件之间的底层蓝宝石衬底。由于蓝宝石是不导电的,在物理分离之前就隔离了器件。如果使用PR掩膜,这一刻蚀步骤的主要挑战是散热,因为高刻蚀速率是用高等离子密度实现的。这意味着单晶圆的紧固问题,通
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07/27 02:43