用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、塑胶等行业,国防工业、航天、兵工业、电子芯片IC、 半导体陶瓷及高分子材料之物理性快速温度变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害,可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件,无一不需要它的理想测试工具。
二、两箱式冷热冲击实验箱的设备特点:
◆ 采用伺服冷媒流量控制技术有效达到节能40%以上
◆ 实验循环进行,有效达到3天除霜一次,除霜只需2小时
◆ 采用纯铝翅片蒸发器,有效降低储能时间和能量节省
◆ 具有两箱和三箱测试功能,符合测试规范
◆ 世界首创观察视窗,有效达到物测目视效果
◆ 实时实验曲线分析,配备RS232,USB数据存储连接
◆ 具有报警提示即解出报警装置画面图文解说
◆ 试验结束待测品自动回常温避免结霜结露保护机制
三、两箱式满足以下的标准:
1、GB/T2423.1-1989低温试验方法;
2、GB/T2423.2-1989高温试验方法;
3、GB/T2423.22-1989温度变化试验;
4、GJB150.5-86温度冲击试验;
5、GJB360.7-87温度冲击试验;
6、GJB367.2-87 405温度冲击试验。
7、SJ/T10187-91Y73系列温度变化试验箱——一箱式
8、SJ/T10186-91Y73系列温度变化试验箱——二箱式
9、满足标准IEC68-2-14_试验方法N_温度变化
10、GB/T 2424.13-2002试验方法温度变化试验导则
11、GB/T 2423.22-2002温度变化
12、QC/T17-92汽车零部件耐候性试验一般规则
13、EIA 364-32热冲击(温度循环)测试程序的电连接器和插座的环境影响评估
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